第12回非破壊評価総合展（7月23日~25日）に出展

        弊社は7月23日（水）から25日（金）まで東京ビックサイトで開催される「第12回非破壊評価総合展」に出展する運びとまりました。

        本展示会では、弊社の最新技術を用いた非破壊検査装置をご紹介いたします。具体的には「レーザー超音波可視化検査装置：LUVI」と「小型X線検査装置：TXR」の展示を予定しております。

        当日は、装置の実演デモも行う予定ですので、ぜひこの機会にお立ち寄りいただき、弊社の技術をご体感いただければ幸いです。

        皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

        展示会名：第12回非破壊評価総合展

        日時：7月23日（水）～7月25日（金）　10：00～17：00

        会場：東京ビックサイト　東5ホール

        弊社小間番号：5-V19

        弊社出展製品：レーザー超音波可視化検査装置と小型X線源

        詳細・会場へのアクセスはこちらから: https://mente.jma.or.jp/